logo
Koqia Measuring Instrument Inc 86-769-400 880 3216 sales@koqia.com
KLM4030 Vision Measuring Machine Video Inspection System For Semiconductor Field

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля

  • Выделить

    Измеритель зрения KLM4020

    ,

    Полупроводниковая машина для измерения поля зрения

    ,

    Система видеонаблюдения на полупроводниковом поле

  • Путешествия
    315х245х75 мм
  • Датчики изображения
    " 20 МП CCD * 2
  • объектив
    Бителецентрическая двойная линза
  • Максимальная масса стеклянного стола
    5 кг
  • Программное обеспечение для измерений
    Программное обеспечение GQuick CAD++
  • Электрическое питание
    220V±10%, 50Hz
  • Размер ((L*W*H) мм
    695*635*650 мм
  • Резолюция
    0.1μm
  • Место происхождения
    Гуандун
  • Фирменное наименование
    koqia
  • Сертификация
    CE
  • Номер модели
    КЛМ4020
  • Количество мин заказа
    1 комплект
  • Цена
    Can be discussed
  • Упаковывая детали
    Плитка
  • Время доставки
    30 рабочих дней
  • Условия оплаты
    L/C,T/T
  • Поставка способности
    100 комплектов в месяц

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля

Система видеоинспекции измерительной машины KLM4090 Vision

Измерительная машина VisionСерия KLM

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 0

Применение:

Широко используется в 3C, IT, фотоэлектрических системах, новых энергетических батареях, медицине, автомобилестроении, полупроводниках, печатных платах, прецизионной обработке, пресс-формах, высечке, штамповке, резине и пластмассе, а также в других областях, предоставляя комплексные решения для измерения размеров и контроля качества для всех видов предприятий и учреждений.

 

ПродуктСравнение:

Название продукта

Традиционный VMM

Серия KLM 

работа

Операция сложная

лТребуется много времени, чтобы научиться управлять измерительным устройством

лПоле зрения небольшое и требует профессиональных измерений

лИзмерение невозможно без наличия квалифицированных операторов

простота в использовании

лЛегко начать работу, не требуется сложная подготовка.

лОсновываясь на измерениях больших изображений, вы видите то, что получаете.

лПростой, удобный процесс.

эффективность

Низкая эффективность

лПозиционирование измерительного образца и определение местоположения начала координат занимает много времени

лЧем больше количество измеряемых деталей или количество позиций измерения, тем больше времени требуется

лПакетное измерение медленное и неэффективное

высокоэффективный

лИзмерительный образец не нужно позиционировать, образец можно размещать произвольно

лОдновременно можно измерить до 100 образцов и 512 элементов

лЭффективность измерения более чем в 10 раз выше, чем у обычных устройств визуализации

ошибка

Человеческая ошибка

лИсточник света настраивается или фокусируется по-разному, что приводит к ошибкам измерения

лСуществует разница в позиции человеческого суждения, и результат измерения варьируется от человека к человеку

лУстройство берет точку по-разному, что приводит к ошибкам измерения

Точность

лАвтофокусировка для устранения ошибок, вызванных неравномерной фокусной длиной

лАвтоматически идентифицирует измеряемую деталь, и результат измерения точен и последователен каждый раз

лВсего одним щелчком мыши вы можете легко получить стабильные результаты

Значительно сократите трудозатраты всего за три шага

ЗагрузитеМодель

-----------------

ЧПУ программамодель, поддержка импорта DXF

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 1 

Поместите заготовку

-----------------

Не нужно позиционировать, просто поместите ее

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 2 

Измерение одним щелчком мыши

-----------------

Нажмите клавишу Measure или нажмите пробел

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 3

Пакетные заготовки измеряются одним щелчком мыши

л Заготовку можно быстро измерить в любом положении в поле зрения, экономя время на позиционировании, и одновременно можно измерить до 100 заготовок.

л Эффективность измерения более чем в 10 раз выше, чем у обычных устройств визуализации, и чем больше размерных характеристик, тем выше эффективность.

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 4

Линейный двигатель

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 5  

Двойной объектив с низкой дисторсией Bi-telecentric

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 6

Двойной телецентрический объектив с низкой дисторсией

Конструкция телецентрического объектива уменьшает оптические искажения и делает изображение более реалистичным и точным, что особенно важно для приложений, требующих высокоточных измерений, где заготовка может быть размещена произвольно во время измерения для получения точных результатов измерения.

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 7

Автоматическая оптическая фокусировка

Оснащен бителецентрическим оптическим объективом, он может выполнять автофокусировку в соответствии с положением измерения, сокращая время настройки персонала.

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 8

Новое крупноформатное изображение имеет больше пикселей на единицу размера и более высокую точность

По сравнению с традиционными объективами точность изображения выше.

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 9

Двойная камера с разрешением 20 миллионов пикселей
захватывать сложные детали

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 10

Оптическая система, которую можно переключать в любое время с двойным полем зрения

Обеспечьте одновременное измерение с большим полем зрения и высокой точностью, быстрее и умнее.

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 11

Субпиксельная обработка изображений
Разделите один пиксель на 100 равных частей для обнаружения краев и вычислений.

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 12

Автоматическое удаление аномалий
Если на извлеченном крае есть заусенец или дефект, он автоматически удаляется как аномалия.

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 13


Автоматическая система зонального освещения с подъемом

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 14

Четыре вида системы освещения

Оснащен несколькими системами переменного оптического освещения, поверхностный свет поддерживает подъем и опускание, что подходит для различных сценариев измерения.

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 15


Решения для измерения высоты

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 16

Новое программное обеспечение собственной разработки

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 17

Пользовательский интерфейс удобен, работа удобна и быстра, а функции мощны и практичны. Кроме того, функцию можно настроить в соответствии с собственными потребностями пользователя, чтобы более эффективно повысить эффективность работы. 

KLM4030 Визуальная измерительная машина Система видеонаблюдения для полупроводникового поля 18

Введение в функцию
Пользовательский интерфейс удобен, работа удобна и быстра, а функции функциональны

Быстрые инструменты

Система координат (позиционирование, точка-линия, линия-линия), основа (точка, линия, окружность, дуга), угол (линия-линия), расстояние (линия-линия, точка-линия, точка-точка, окружность-окружность, окружность-линия, окружность-точка)

Вспомогательные инструменты

Точки (середины, пересечения), комбинированные края (линии, окружности), линии (средние линии, перпендикуляры, параллельные линии, касательные, линии через точку, приближенные прямые), окружности (промежуточные окружности, окружности построения середины, вспомогательные окружности, касательные окружности, вписанные окружности)

Геометрические допуски

Допуски формы (прямолинейность, округлость, контур, плоскостность), допуски ориентации (прямолинейность, параллельность), допуски положения (положение, концентричность, симметрия точек)

Специальные приложения

Самая большая точка, самая маленькая точка (прямоугольник, окружность, дуга), линия (пиковая линия), окружность (пиковая окружность, пиковая дуга), расстояние между шагами (прямое, окружное), угол шага (прямая линия, окружность), R-угол, C-поверхность, паз, круглое сечение, периметр, площадь, винт, шестерни

Часто используемые инструменты

Конструкция (расстояние, интервал, угол, точка, сегмент, окружность, дуга, эллипс, план, окружность, прямоугольник, облако разработки, замкнутое облако, облако точек, текст, канавка), аналитический (многоинструментальный, автоматический, перпендикулярный, состав середины, окружность середины, крест, биссектриса, радиус рисования, вписанная окружность двух линий, параллельная, касательная, внешняя окружность, вписанная окружность, наименьший диапазон, треугольная вписанная окружность, 3D-режим), инструменты (ручная точка, точка фокусировки, точка коробки окружности, точка коробки квадрата, сканирование отрезка, сканирование дуги, сканирование окружности, указать точку, эллипс, прямоугольный, окружность, сканирование контура, сканирование замкнутого контура, сканирование замкнутого элемента, сканирование открытого элемента), система координат (коррекция плоскости, коррекция оси, настройка системы координат, исходящая, ориентация XYZ, рабочая плоскость)


Техническое описание

Модель

KLM2020

KLM3020

KLM4030

Код

521-321

521-331

521-341

 

Травел

 

X

115586*435*635 мм

215586*435*635 мм

315586*435*635 мм

Y

145 мм

145586*435*635 мм

245586*435*635 мм

Z

75 мм

75586*435*635 мм

75586*435*635 мм

FOV

Высокая точность

125*150 мм

225*150 мм

325*150 мм

Широкое поле

140*165 мм

240*165 мм

340*265 мм

Повторяемость

Табле-Mовинг

X-Y Axis

±1.8μm

±2.0μm

±2.5μm

 

No

Moving

High-  precision

±0.5μm

Широкое поле

±m

Разрешение

0.1μm

Точность

Высокаяточность

Without  Binding

±1μm

With  Binding

±1.8+L/100μm

Широкое поле

Without  Binding

±2μm

With  Binding

±2.8+L/100μm

Датчики изображения

1" 20MP CCD * 2

Объектив

Bi-telecentric double lens

Лазер

Спектральное  измерение Диапазон (мм)

 

±2.2

Рабочее  Расстояние (мм)

37

Максимальный наклон

±25°

Размер пятна (μm)

20

Линейность

±0.02%F.S.

Lighting  System

Нижний свет

Telecentric Transmitted Illumination (Зеленый)

Поверхностный свет

Quad Split Ring Illumination (белый свет, моторизованный)

Щелевой свет

Ring направленное освещение (зеленый свет, моторизованный)

Коаксиальный свет

Дополнительно

Horizontal  turntable  (дополнительно)

Угол поворота

The разрешение 0.02°, и the диапазон is 360°

Скорость вращения

0.2-2 об/мин

Максимальный  измеряемый диаметр

Φ20 мм

Макс Вес для the стеклянный стол

5 кг

Программное обеспечение для измерения

GQuick CAD++ Программное обеспечение

Питание 220 В±10%, 50 Гц

Рабочая

Среда Температура: 

20±2℃, влажность: 30-80%, вибрация: 0.002 г, 15 ГцРазмер (Д*Ш*В)

мм 586*435*635 мм

    586*505*635 мм

 695*635*650 мм